Plane Ruled grating 400l/mm 430nm-2000nm

• Lengra breiðbandsþekju: Fínstillt fyrir 430nm-2000nm sviðið, spannar allt sýnilega litrófið og nær langt inn í nær-innrauða. Þetta eina rist gerir fjölhæfa tækihönnun sem getur sinnt mörgum notkunarþörfum.
• Bjartsýni 400 l/mm grópþéttleiki: 400 l/mm grópþéttleiki veitir kjörið jafnvægi á milli litrófsupplausnar og ljósafkasta yfir breitt bylgjulengdasvið. Þessi minni þéttleiki tryggir mikla afköst á NIR svæðinu þar sem lengri bylgjulengdir krefjast breiðari rifabils til að ná sem bestum árangri.
• Nákvæmni stjórnað fyrir lítið flökkuljós: Háþróuð stjórnunaraðferðir búa til slétt, nákvæm grópsnið sem lágmarka dreifingu og tryggja að sveigjanleiki planrristarinnar skili sér í hreinum, háu merki-til-suðshlutfalls litrófsgagna á öllu sviðinu.
• Breiðbandshúðunarvalkostir: Fáanlegt með vernduðu áli eða endurbættri breiðbandshúð sem er sérstaklega hönnuð til að viðhalda mikilli endurspeglun frá því sýnilega í gegnum NIR, sem hámarkar afköst kerfisins.
• Framúrskarandi gæði bylgjufronts: Framleitt á hágæða undirlagi með einstakri flatneskju, sem tryggir lágmarksbylgjusviðsbjögun-sem er mikilvægt til að viðhalda fókus og upplausn í ljóskerfum sem starfa yfir breitt litrófssvið.

Þetta fjölhæfa speglunarrist er tilvalinn hluti fyrir tæki sem krefjast víðtækrar litrófsþekju frá sýnilegu til nær-innrauðs:

UV-Vis-NIR litrófsmælir: Þjónar sem kjarnadreifingarþáttur fyrir fjöl-tæki sem greina sýni yfir sýnilega og nærri-innrauða svæðin.

• NIR ferligreining: Nauðsynlegt fyrir iðnaðarferlisstýringu, þar með talið flokkun landbúnaðarafurða, sannprófun lyfja innihaldsefna og fjölliðagreiningu þar sem litrófsmerki birtast á NIR svæðinu.
• Plane Grating Monochromator: Fullkominn fyrir einlitna lita sem notaðir eru í stillanlegum ljósgjafa, sem gerir einu risti kleift að hylja bæði sýnilega og NIR bylgjulengd án þess að breyta íhlutum.
• Efniseinkenni: Notað í tækjum sem mæla endurkast, straumfall og gleypni efna með litrófseiginleika sem spanna sýnilegt til NIR svið.
• Optísk íhlutaprófun: Hentar fyrir prófunarkerfi sem meta frammistöðu sía, húðunar og annarra ljóshluta yfir breitt bylgjulengdasvið.